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產品名稱:
膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
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光譜儀（MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700）
提供豐富選配套件以及客制化光纖，
可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設計，是一套可靈活架設于各種環(huán)境下的*佳即時測量系統(tǒng)
膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
的詳細介紹
分光光譜儀種類
膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量
蒸餾膜測量
多點膜厚測量